Электротехнический рынок → поиск: surface + Фильтр ↓

удалить фильтр вы можете просто кликнув по нему

Рубрики: Сырье и материалы - 3 Регионы: Бренды: FIT - 1 Разделы: Продукция Объявление Прайс Прочее: В наличии С ценой

AFM Probes, Tips, and Cantilevers AFM Probes. AFM, Atomic Force Microscope, probes or tips are designed to fit into most commercially available AFMs and outperform all other silicon SPM, Scanning Probe Microscope, probes used in... Цена договорная от 03.09.17г. Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG) Company TipsNano supply with Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG).  It's a type of pure, highly laminar graphite used as an atomic-scale calibration standard for atomic force microscopy and... Цена договорная от 03.09.17г. High aspect ratio AFM cantilevers — TipsNano Tips High Aspect RatioWhisker probe is an indispensable instrument for studying surfaces of unusual profile with narrow gaps. Standard cantilevers fail to investigate such objects with the necessary... Цена договорная от 03.09.17г.